TCR高温試験機

高温試験機（TCR試験機とも呼称）は、2端子（2T）または4端子（4T）プローブを用いて常温状態で抵抗値を測定した後、ステージ上の抵抗基板を加熱し、設定温度（例：125℃）まで到達させます。その後、高温状態で再度抵抗値を測定し、加熱前後の抵抗値および温度差から抵抗の温度係数（TCR）を算出します。さらに、加熱前後で異常が確認された抵抗に対してレーザー切断にも対応します。

高温試験機は、チップ抵抗の製造プロセスにおける重要設備であり、単枚の抵抗基板を対象に各抵抗のTCR値を測定する用途に用いられます。

01005-2512

抵抗サイズ
100-20MΩ

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自社開発レーザーにより、低コスト・長寿命・万全なアフターサポートを実現

JPT自社開発のレーザーを採用し、用途に応じたカスタムレーザーにも対応可能なため、低コスト化を実現します。光ファイバー、結晶、ポンプ光源など最適な部材を選定してレーザーを組み上げ、72時間のエージング試験を実施することで、長期運用における信頼性を確保しています。
加熱温度を高精度に制御可能

温度範囲は室温～150℃で、設定温度の指定が可能です。ステージ表面の周辺部と中心部の温度差が小さく、＜±1.5℃を実現します。
加熱前後で異常が確認された抵抗のレーザー切断に対応

加熱前後で異常が確認された抵抗は、装置内蔵のレーザーシステムにより切断可能であり、温度特性不良の流出や後工程への混入を防止します。

製品用途

不良抵抗器切断効果
不良抵抗器切断効果

TCRチップ抵抗高温試験機

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vs

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温度制御精度
測定再現性
レーザー出力
ガルバノスキャン範囲
ガルバノ切断速度

高温测试机
- 製品仕様
  
  0201~2512
- 温度制御精度
  
  ≤±1.5℃ （五点量测）
- 測定再現性
  
  ≤±1.5PPM/℃
- レーザー出力
  
  IR≥30W@23kHz
- ガルバノスキャン範囲
  
  12mm × 75mm@F125
- ガルバノ切断速度
  
  1mm/s ~ 400mm/s

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