単体測定機
単体測定機は、4端子(4T)プローブ、標準電気計器(標準メータ)、XYZ自動位置決めシステム、画像処理(ビジョン)システムで構成され、チップ薄膜、厚膜、厚膜超低抵抗、合金超低抵抗抵抗に対する自動位置決めおよび抵抗値測定を行います。
単体測定機は、チップ抵抗の製造プロセスにおける重要設備であり、レーザートリミング前の初回検査、レーザートリミング後の再測定/最終検査、印刷工程での抵抗印刷後の抵抗値測定などに用いられます。
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01005-2512抵抗サイズ
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0.1mΩ-1Ω/1Ω-100MΩ抵抗値範囲
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製品特長
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製品用途
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製品仕様
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関連製品
製品特長
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電動可変プローブにより、0201~2512の多サイズに対応
4端子(4T)プローブは可変構造となっており、左右ピッチを調整することで0201~2512の多サイズに対応します。01005サイズは部品寸法が小さいため、固定ピッチのプローブカードを採用します。
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多様な外部計測器に対応し、広い抵抗値測定レンジを実現
外部計測器(RMシリーズ:RM3545など、AEシリーズ:AE162など)に対応し、超低抵抗(0.1mΩ~1Ω)、標準抵抗(1Ω~10MΩ)、超高抵抗(10MΩ~100MΩ)の測定が可能です。
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PRビジョンによるマーク認識に対応し、抵抗の自動位置合わせを実現
PRビジュアルは、基板の左右または上下に配置されたマーク点(円形・四角形・菱形など)を認識し、基板角度を自動補正します。これにより、測定ポイントの繰返し精度および抵抗値測定の精度を確保します。
製品用途
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各種チップ抵抗器の抵抗値 -
各種チップ抵抗器の抵抗値 -
各種チップ抵抗器の抵抗値 -
各種チップ抵抗器の抵抗値
HiPA-単体測定機
製品仕様
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HiPA标准
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选配
vs
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測定範囲
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測定精度
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測定スループット
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測定方式
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プローブ設定
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測定安定性
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HiPA标准
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測定範囲0.01μΩ~1200MΩ(电表)
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測定精度参考RM3545电阻计的规格书
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測定スループット参考RM3545电阻计的规格书
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測定方式单通道
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プローブ設定4T
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測定安定性采用RM3545: 1mΩ~10mΩ:<0.5%;10mΩ~1Ω:<0.1%; 1Ω~10MΩ:<0.05%;10MΩ~100MΩ:<0.1%
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选配
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測定範囲/
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測定精度客户可指定电表
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測定スループット客户可指定电表
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測定方式最多可扩展到20通道
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プローブ設定/
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測定安定性音圈电机:1mΩ~1Ω:<0.1%
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関連製品
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薄膜レーザートリミング装置測定範囲:0.1Ω~500MΩ、測定精度:±0.01%、多仕様の抵抗に対応。 -
厚膜レーザートリミング装置セラミック基板を基材とするチップ厚膜抵抗/ハイブリッド回路(厚膜)のレーザートリミングに用いられ、抵抗値範囲は0.1Ω~500MΩに対応します。 -
レーザースクライバー装置表裏面スクライバーの繰返し精度は±5μm以内を実現し、直線度±0.75μm/70mmおよび位置決め精度±1μmを達成します。 -
単体測定機レーザートリミング前の初回検査、レーザートリミング後の再測定または最終検査、印刷工程における抵抗印刷後の抵抗値測定に使用します。 -
高電圧試験機単枚の抵抗基板を対象に、各抵抗のトリミング前後における耐電圧特性を評価するために使用します。 -
TCR高温試験機温度特性の異なる抵抗を選別・分類し、規格外の温度特性を持つ抵抗に対してレーザー切断(不良カット)を行います。