高電圧試験機

高電圧試験機は、2端子（2T）または4端子（4T）プローブで抵抗両端を測定し、プローブを介して抵抗両端に所定の電圧を印加することで、抵抗の耐電圧特性を試験します。さらに、加圧前後の抵抗値測定にも対応し、レーザー切断により加圧前後で異常が確認された抵抗を切り離すことも可能です。

高電圧試験機は、チップ抵抗の製造プロセスにおける重要設備であり、単枚の抵抗基板に対して各抵抗のトリミング前後の耐電圧特性を試験する用途に用いられます。

01005-2512

抵抗サイズ
100-20MΩ

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自社開発レーザーにより、低コスト・長寿命・万全なアフターサポートを実現

JPT自社開発のレーザーを採用し、用途に応じたカスタムレーザーにも対応可能なため、低コスト化を実現します。光ファイバー、結晶、ポンプ光源など最適な部材を選定してレーザーを組み上げ、72時間のエージング試験を実施することで、長期運用における信頼性を確保しています。
印加電圧レンジが広く、印加時間の設定が可能

AC 0～600V、DC 0～5000Vの広い印加電圧レンジに対応し、印加電圧値および印加保持時間を設定できます。
印加前後で異常が確認された抵抗のレーザー切断に対応

印加前後で異常が確認された抵抗は、装置内蔵のレーザーシステムにより切断可能であり、耐電圧不良の流出や後工程への混入を防止します。

製品用途

不安定抵抗器
損傷抵抗器
不純物含有抵抗器

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製品仕様

シリーズモデル

標準

vs
オプション

vs

印加電圧範囲
プローブ印加方式
印加電圧計型式
測定範囲
測定安定性
チャンネル数
プローブ絶縁設計
印加電圧検査モジュール
印加電圧値
印加時間

標準
- 印加電圧範囲
  
  AC：0～600V
- プローブ印加方式
  
  2Tの高電圧と低電圧は分離されています
- 印加電圧計型式
  
  交流電圧計：6710
- 測定範囲
  
  100MΩ ~ 20MΩ
- 測定安定性
  
  単一行: 10R: ＜0.1%；10K: ＜0.1%; 1M: ＜0.1%
  シングル: 10R: ＜0.01%；10K: ＜0.01%; 1M: ＜0.05%
- チャンネル数
  
  標準構成には、12個の従来型リレーボード、192チャンネルが含まれます。
- プローブ絶縁設計
  
  0～600V：プローブカードは抵抗調整プローブカードと同じ構造であり、絶縁や耐電圧設計は不要です。
- 印加電圧検査モジュール
  
  /
- 印加電圧値
  
  2.5 × U加圧
- 印加時間
  
  加圧検出モジュールなし：2Tプローブ、加圧時間を設定できます。
オプション
- 印加電圧範囲
  
  DC: 0~ 3000V; DC: 0~ 5000V
- プローブ印加方式
  
  4T (600V以下)
- 印加電圧計型式
  
  DC 0-3000V：HY-HV 3KV-1000-X
  DC 0-5000V：HY-HV 5KV-600-X
- 測定範囲
  
  100MΩ ~ 20MΩ
- 測定安定性
  
  /
- チャンネル数
  
  標準構成には、12個の従来型リレーボード、192チャンネルが含まれます
- プローブ絶縁設計
  
  600～4000V：検出器のアルミ板をグラスファイバー製のものに交換する必要があります。プリント基板、ケーブル、コネクタは4kVの電圧に耐えられるように設計する必要があります
- 印加電圧検査モジュール
  
  4Tオプションのプローブ
- 印加電圧値
  
  /
- 印加時間
  
  圧力検出モジュールと4Tプローブを備えており、圧力試験時間を設定できます

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